產(chǎn)品展示PRODUCTS
日本tei化學(xué)發(fā)光分析儀CLA-FS5
更新日期:2024-05-11
訪問量:1124
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址:
簡要描述:
日本tei化學(xué)發(fā)光分析儀CLA-FS5/CLA-ID5/CLA-IMG4/CLA-SP3使用光電倍增管的高靈敏度光子測量設(shè)備。除了亮度之外,光譜測量也是可能的。它是一種標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品,可用于所有應(yīng)用中的研究。
日本tei化學(xué)發(fā)光分析儀CLA-FS5/CLA-ID5/CLA-IMG4/CLA-SP3
日本tei化學(xué)發(fā)光分析儀CLA-FS5/CLA-ID5/CLA-IMG4/CLA-SP3
化學(xué)發(fā)光分析儀
我們還生產(chǎn)滿足用戶和實驗系統(tǒng)需求的設(shè)備。
CLA-IMG4
影像量測
使用超靈敏CCD相機的設(shè)備。可以測量微弱發(fā)光的圖像,并且可以檢查圖像上氧化劣化部位的分布和劣化程度。它還可以同時測量多個樣品。
化學(xué)發(fā)光分析儀
我們還生產(chǎn)滿足用戶和實驗系統(tǒng)需求的設(shè)備。
CLA-IMG4
影像量測
使用超靈敏CCD相機的設(shè)備。可以測量微弱發(fā)光的圖像,并且可以檢查圖像上氧化劣化部位的分布和劣化程度。它還可以同時測量多個樣品。
化學(xué)發(fā)光分析儀
我們還生產(chǎn)滿足用戶和實驗系統(tǒng)需求的設(shè)備。
CLA-IMG4
影像量測
使用超靈敏CCD相機的設(shè)備。可以測量微弱發(fā)光的圖像,并且可以檢查圖像上氧化劣化部位的分布和劣化程度。它還可以同時測量多個樣品。
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