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發(fā)射率測量儀
更新日期:2024-05-13
訪問量:866
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址:
簡要描述:
發(fā)射率測量儀TSS-5X-3通過了解發(fā)射率,可以提高加熱設(shè)備等的輻射效率,并且可以設(shè)計出注重散熱和隔熱的材料,這也可以用于節(jié)能。
發(fā)射率測量儀TSS-5X-3
發(fā)射率測量儀TSS-5X-3
日本進口japansensor發(fā)射率測量儀TSS-5X-3
量化材料表面處理中的細微差別
使用TSS-5X-3,您可以輕松地測量室溫下的發(fā)射率。
樣品的發(fā)射率以易于閱讀的方式數(shù)字顯示,并且易于操作。
從研發(fā)到大規(guī)模生產(chǎn)線,
它廣泛用于航天,半導(dǎo)體,核電等領(lǐng)域。
我們已從TSS-5X-2更新為TSS-5X-3。
■更新要點
(1)更換交流電源
插座電源區(qū)域已更新,并更改為普通交流電源插座。
現(xiàn)在可以更換適用于其他國家的配電盤。
除此之外,還集成了電源開關(guān)和保險絲盒。
它看起來很整潔,并提高了可用性。
(2)可以根據(jù)目的地選擇
電源線。請從下表中選擇適合您國家的電源線。
電源線型號 | 插頭形狀 | 主要使用國家 |
TSB-JP02 | 一種 | 日本,中國臺灣等 |
TSB-CN02 | Ø | 中國等 |
TSB-KR02 | 東南 | 韓國等 |
TSB-UK02 | 高爐 | 香港等 |
TSB-CH02 | C | 中國,韓國等 |
產(chǎn)品特點
量化材料表面處理中的細微差別
通過了解發(fā)射率,可以提高加熱設(shè)備等的輻射效率,并且可以設(shè)計出注重散熱和隔熱的材料,這也可以用于節(jié)能。
TSS-5X-3使用兩種類型的標(biāo)準(zhǔn)件(發(fā)射率0.06和0.97),這些標(biāo)準(zhǔn)件的發(fā)射率是已知的,并且可以在不加熱樣品的情況下輕松地在室溫下進行測量。
從研發(fā)到大規(guī)模生產(chǎn)線,它廣泛用于航天,半導(dǎo)體,核電等領(lǐng)域。
測量原理
紅外線被樣品反射,其中一些紅外線穿過半球形黑體爐頂部的小孔進入。
檢測元件以恒定速率檢測能量。規(guī)格:
模型 TSS-5X-3 測量方式 紅外探測反射能量測量方法 測量波長 2-22微米 測量范圍 發(fā)射率:0.00-1.00 準(zhǔn)確率評估 滿量程的±1% 測量面積 Φ15毫米 實測距離 12mm(通過檢測頭基座固定的方法) 樣品溫度 10-40°C(室溫) 測量值顯示 LED數(shù)字顯示(最多顯示第二位) 輸出 0-0.1V,0-1V,滿量程 工作溫度/濕度范圍 10-45°C / 35-85°C(無冷凝) 電源/電源 AC100-240V,50 / 60Hz,30W *不包括電源線。選擇符合規(guī)格的電源線。 尺寸/質(zhì)量 檢測頭:Φ51x 137Lmm,0.6kg(使用3000Lmm機械手電纜)
測量單位:156H x 306W x 230Dmm(不包括橡膠腳手柄等),5.0kg配件 發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)件存儲箱:84H x 238W x 185Dmm,1.1kg
發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)件:0.06(鏡面),0.97(黑體)各1個
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